Nach einer kurzen Vorstellung des mittelständigen Unternehmens durch den Firmeninhaber Olaf Mollenhauer referierte dieser über „Neue Verfahren zur Charakterisierung von Oberflächen, Interface und Materialien.“
Die Herausforderungen für die Geschäftsbereiche Detektieren, Monitoren und Analysieren sind die Wechselwirkungen im Übergangsbereich von Makro zu Nano. Eigens in der Firma entwickelte Geräte zur Bestimmung von Adhäsion / Härte / Nachgiebigkeit von Schichten, Biomaterialien, Kompositen und von Kolloiden wurden vorgestellt. Mit diesen Geräten lassen sich tribologische Wechselwirkungen von geschmierten und ungeschmierten Materialpaarungen, von Nanometer-Schichtdickenmessungen und dielektrischer Materialeigenschaften mittels hochintegrierter Ellipsometrie bestimmen. Die Geräte wurden speziell für die Substanzbestimmung, Umweltüberwachung und Materialanalyse als Tischgeräte mit moderner Software zur Erfassung der umfangreichen Messdaten konzipiert.
Praktische Beispiele optischer Messprinzipien sowie Demonstration verschiedenster Messgeräte
und -methoden
Nach einer kurzen Pause mit Imbiss wurde ein Teil der Geräte näher vorgestellt. Damit erhielten die Teilnehmer einen Einblick in die verschiedenen optischen Messprinzipien wie Fluoreszenz, F-Quenching und Extinktion, wobei speziell auf verschiedene spektroskopische Methoden für die Analyse von PFAS- Materialien und deren Auswertung eingegangen wurde.
Besonderes Interesse fand die Demonstration von Messgeräten, mit denen Materialien, wie sie in PKW- und Schienenfahrzeugen, in Windkraftanlagen in der Kunststoffindustrie aber auch im Bauwesen Verwendung finden, untersucht werden können.
So wurde ein Handgerät zur Untersuchung von Stoffoberflächen sowie ein Kontaktwinkelmessgerät vorgestellt. Angaben zu Eigenschaften, Lebensdauer und Materialeignung von Wischergummis lieferte ein Rubber Friction Analyzer. Außerdem wurde ein Messgerät zur Bestimmung der Zähigkeit/Klebrigkeit und Qualität von Schmierfetten vorgeführt. Besonderes Interesse fand jedoch der Coating-on-Rod Thickness Analyzer zur Schichtanalyse organischer Materialien mit 3D-Kraftmessung und Ellipsometer-Messsystem. Hier tauchte die Frage auf, ob das Gerät auch dünne galvanische Chrom-Schichten (aus 6-wertigem bzw. 3-wertigem-Chromelektrolyten abgeschieden) analysieren kann. Hierbei ist vor allem interessant, ob sich diese Schichten in Zusammensetzung und Morphologie unterscheiden. Im letzten Teil seines Vortrages informierte Olaf Mollenhauer die Zuhörer über die aktuelle Entwicklung ellipsometrischer Schichtdickenmessungen.
Mit vielseitigen Eindrücken versehen bedankte sich DGO-Bezirksgruppenvorsitzender Mathias Fritz bei Olaf Mollenhauer für den interessanten Vortag sowie für die Einblicke in die umfangreiche, moderne Messtechnik und kündigte die nächste Veranstaltung bei CATL Arnstadt an.